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Zeiss Artikelnr.: 491239-0019-000

ZEISS Axiovert 7 AL – Materialmikroskop mit C-DIC und Kamera

Verkaufspreis €53.686,00 Normaler Preis €59.652,00
zzgl. 19% MwSt.

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Beschreibung

Inverses Materialmikroskop für Metallografie und Oberflächenanalyse

Das ZEISS Axiovert 7 AL ist ein inverses Auflichtmikroskop für die Untersuchung von Werkstoffen, metallografischen Schliffproben und technischen Oberflächen. Mit Hellfeld, Dunkelfeld, C-DIC und Polarisation bietet diese Konfiguration unterschiedliche Möglichkeiten, Gefüge, Oberflächenstrukturen und Auffälligkeiten sichtbar zu machen.

Das Komplettsystem kombiniert sechs EC Epiplan-Neofluar Objektive von 2,5× bis 100× mit einem motorisierten Scanningtisch, motorischem Z-Fokus und der ZEISS Axiocam 305 color R2. ZEN core ergänzt die Ausstattung für die digitale Bildaufnahme, Bearbeitung und Dokumentation.

ZEISS Artikelnummer: 491239-0019-000

Ihre Vorteile auf einen Blick

  • Vier Kontrastverfahren: Hellfeld, Dunkelfeld, C-DIC und Polarisation für unterschiedliche Untersuchungsaufgaben

  • Umfangreicher Objektivsatz: von der Übersicht bis zur Detailbetrachtung mit sechs Objektiven

  • Motorisierte Positionierung: XY-Scanningtisch mit Joystick und motorischer Z-Fokus

  • Digitale Dokumentation: Farbbildaufnahme mit Axiocam 305 color R2 und ZEN core

  • Komfortable Bedienung: Ergozwischenstück zur Anpassung der Einblickhöhe

  • Unterstützung im Arbeitsalltag: kodierte Revolver, Lichtmanager und Parfokalitätsmanager

Materialstrukturen mit dem passenden Kontrast untersuchen

Je nach Probe und Untersuchungsziel liefern unterschiedliche Kontrastverfahren ergänzende Informationen:

Kontrastverfahren Typischer Nutzen
Auflicht-Hellfeld Übersicht und Beurteilung präparierter Materialoberflächen und Gefüge
Auflicht-Dunkelfeld Hervorhebung lichtstreuender Strukturen, beispielsweise feiner Kratzer oder Kanten
C-DIC Kontrastierung feiner Höhenunterschiede und Oberflächenstrukturen
Polarisation Untersuchung des polarisationsabhängigen Verhaltens geeigneter Materialien und Gefügebestandteile

Die Nutzung des jeweiligen Verfahrens richtet sich nach der Probe und der dafür geeigneten Objektiv- und Kontrasteinstellung.

Inverse Bauweise für metallografische Proben

Die präparierte Untersuchungsfläche liegt nach unten auf dem Probentisch und wird von unten betrachtet. Diese Anordnung erleichtert die Untersuchung metallografischer Schliffproben und bietet oberhalb des Tisches Platz für unterschiedliche Probenformen.

Der motorisierte Scanningtisch ermöglicht die gezielte Positionierung der Probe. Mit dem Joystick navigieren Sie zu den gewünschten Untersuchungsstellen; der motorische Z-Trieb unterstützt die präzise Fokussierung.

Digitale Bilder für Prüfung und Dokumentation

Die Axiocam 305 color R2 erfasst Farbbilder Ihrer Materialproben. Zusammen mit ZEN core lassen sich Aufnahmen erstellen, bearbeiten und für die Dokumentation Ihrer Untersuchungen verwenden.

Spezielle Analyseaufgaben, beispielsweise eine automatisierte NMI-Bewertung oder Korngrößenanalyse, erfordern die jeweils passende zusätzliche Softwareausstattung.

Typische Einsatzbereiche

  • Metallografie und Gefügeuntersuchung

  • Material- und Oberflächenanalyse

  • Industrielle Qualitätssicherung

  • Untersuchung von Kratzern, Rissen und Korrosionserscheinungen

  • Werkstoffentwicklung und Schadensuntersuchung

  • Dokumentation metallografischer Prüfergebnisse

Ausstattung und Lieferumfang

Mikroskopstativ und Beleuchtung

Komponente Ausstattung
Mikroskopstativ ZEISS Axiovert 7 AL mit motorischem Z-Trieb
Objektivrevolver 6-fach HD DIC M27, kodiert, mit Schieberaufnahme 6 × 20 mm
Reflektorrevolver 6-fach, kodiert für P&C-Module
Analysatoraufnahme Für Analysatorschieber 12 × 35 mm
Auflichtbeleuchtung HD-Weißlicht-LED, 10 W
Durchschnittliche LED-Lebensdauer Über 60.000 Stunden laut Hersteller
Motorischer Fokus Auflösung 78 nm, Fokushub 13 mm, einstellbarer Fokusstopp
Bedienfunktionen Axiocam-Auslöser, ECO-Modus, Lichtmanager und Parfokalitätsmanager
Ergonomie Ergozwischenstück, Höhe 50 mm
PC-Anbindung USB 2.0 Typ B und CAN-USB-Konverter Rev. 2
Stromversorgung Externes Netzteil, Eingang 100–240 V AC, Ausgang 24 V DC / 5 A, mit länderspezifischem Netzkabel
Schutz Staubschutz-Set

Das Stativ besitzt Aufnahmen für Leuchtfeldblenden-, Aperturblenden-, Polarisator- und Filterschieber sowie eine Schnittstelle für die alternative Leuchte HAL 100.

Objektive und Beobachtung

Objektiv Numerische Apertur Ausführung
EC Epiplan-Neofluar 2,5× 0,06 HD M27
EC Epiplan-Neofluar 5× 0,13 HD DIC M27
EC Epiplan-Neofluar 10× 0,25 HD DIC M27
EC Epiplan-Neofluar 20× 0,50 HD DIC M27
EC Epiplan-Neofluar 50× 0,80 HD DIC M27
EC Epiplan-Neofluar 100× 0,90 HD DIC M27

Zusätzlich enthalten:

  • Binokularer Fototubus, links 45°/23, Lichtteilung 50:50

  • Zwei fokussierbare Brillenträgerokulare PL 10×/23

  • Zwei Augenmuscheln

  • Kamera-Adapter 60N-C 2/3″ 0,5×

Kontrast- und Beleuchtungszubehör

  • Reflektormodul Hellfeld ACR P&C für Auflicht

  • Reflektormodul Dunkelfeld ACR P&C für Auflicht

  • Reflektormodul Polarisator ACR P&C für Auflicht

  • Reflektormodul C-DIC/TIC ACR P&C für Auflicht

  • Zwei C-DIC-Schieber 6 × 20 mm für die vorgesehenen Objektivbereiche

  • Analysatorschieber A 12 × 35 mm, um 90° drehbar

  • Kompensator Pol Lambda sub ±10°

  • Achromatischer Beleuchtungsadapter A

  • Filterschieber A 14 × 40 mm für drei Filter mit 25 mm Durchmesser

  • Blendenschieber A 14 × 40 mm mit Aperturblende

  • Blendenschieber A 14 × 40 mm mit Apertur- und Leuchtfeldblende

  • Konversionsfilter 5700–3200 K, Durchmesser 25 mm

  • Graufilter 0,06 und 0,25, jeweils Durchmesser 25 mm

Probenpositionierung und Kalibrierzubehör

  • Motorisierter Scanningtisch 130 × 85 mm mit CAN-Ansteuerung

  • Joystick zur XY-Steuerung

  • Vertiefter Einlegerahmen K für Auflicht, Durchmesser 72 mm

  • Zwei Tischlochblenden mit 10 beziehungsweise 23 mm Öffnung

  • Objektmikrometer für Auflicht

Kamera und Software

  • Mikroskopie-Kamera ZEISS Axiocam 305 color R2

  • ZEISS ZEN core

Die Softwareversion und der verbindliche Lieferumfang werden im Angebot ausgewiesen. Ein Computer beziehungsweise eine Workstation ist in der hier aufgeführten Ausstattung nicht enthalten.

Passende Ausstattung für Ihre Materialprüfung

Sie möchten klären, welche Kontrastverfahren und Softwarefunktionen Sie für Ihre Proben benötigen? Nutzen Sie „Beratung anfordern“ für eine persönliche Abstimmung und ein individuelles Angebot.

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Kontakt

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Wir stehen Ihnen gerne jederzeit bei Fragen zur Verfügung.
Sie erreichen uns telefonisch unter der  +49 3385 5371 0 oder via Email unter info@askania.de.

Zeiss

Vier Kontrastverfahren für Gefüge, Oberflächen und Materialdetails

Bei der metallografischen Untersuchung kann dieselbe Probenstelle je nach Kontrastverfahren unterschiedliche Details zeigen. Das ZEISS Axiovert 7 AL verbindet Hellfeld, Dunkelfeld, C-DIC und Polarisation in einem inversen Materialmikroskop. So lassen sich Untersuchungen von der ersten Übersicht bis zur gezielten Betrachtung auffälliger Strukturen durchführen.

Die sechs EC Epiplan-Neofluar Objektive decken einen breiten Bereich von Übersichts- und Detailaufnahmen ab. Der motorisierte Scanningtisch erleichtert die Navigation über die Probe, während der motorische Fokus die Scharfstellung unterstützt. Ein Ergozwischenstück ermöglicht die Anpassung der Einblickhöhe.

Mit der Axiocam 305 color R2 und ZEN core können Untersuchungsergebnisse digital aufgenommen und dokumentiert werden. Für spezielle quantitative Auswertungen lässt sich die benötigte Softwareausstattung anhand Ihrer Prüfaufgabe festlegen.

ASKANIA unterstützt Sie bei der Auswahl der geeigneten Konfiguration für Metallografie, Materialprüfung und Qualitätssicherung. Gemeinsam klären wir, welche Kontrastverfahren, Aufnahmefunktionen und ergänzenden Analysewerkzeuge für Ihre Proben sinnvoll sind.