ZEISS Axiovert 7 AL – Hellfeld-Materialmikroskop mit Kamera

Auflicht-Hellfeldmikroskop für Metallografie und Materialprüfung

Das ZEISS Axiovert 7 AL ist ein inverses Materialmikroskop für die Untersuchung präparierter Werkstoffoberflächen und metallografischer Schliffproben im Auflicht-Hellfeld. Diese Konfiguration verbindet vier EC Epiplan Objektive mit motorisierter Probenpositionierung und digitaler Farbbildaufnahme.

Mit dem XY-Scanningtisch, motorischem Z-Fokus und der Axiocam 305 color R2 unterstützt das System die gezielte Untersuchung und Dokumentation von Probenstellen. Die Software ZEISS ZEN core ergänzt die Ausstattung für digitale Bildaufnahme und Bildbearbeitung.

ZEISS Artikelnummer: 491239-0018-000

Ihre Vorteile auf einen Blick

• Auflicht-Hellfeld: für die Untersuchung präparierter Materialoberflächen und metallografischer Gefüge

• Vier EC Epiplan Objektive: 5×, 10×, 20× und 50× für Übersichts- und Detailbetrachtungen

• Motorisierter Scanningtisch: komfortable XY-Positionierung über Joystick

• Motorischer Z-Fokus: präzise Fokussierung mit einstellbarem Fokusstopp

• Digitale Farbbildaufnahme: Axiocam 305 color R2 und ZEN core

• Angepasste Einblickhöhe: Ergozwischenstück mit 50 mm Höhe

• Unterstützende Bedienfunktionen: Lichtmanager, Parfokalitätsmanager und kodierte Revolver

Metallografische Schliffproben im Hellfeld untersuchen

Die Auflicht-Hellfeldbeleuchtung eignet sich zur Betrachtung präparierter Werkstoffoberflächen. Abhängig von Material und Präparation lassen sich beispielsweise Gefügebestandteile, Poren oder andere Auffälligkeiten beurteilen.

Mit den vier enthaltenen Objektiven wechseln Sie von der Übersicht zur Detailuntersuchung. Zusammen mit den 10×-Okularen ergeben sich visuelle Gesamtvergrößerungen von 50×, 100×, 200× und 500×.

Inverse Bauweise und motorisierte Probenpositionierung

Die Untersuchungsfläche der Probe liegt nach unten und wird von unten betrachtet. Dadurch steht oberhalb des Probentisches Platz für unterschiedliche Probenformen zur Verfügung.

Der motorisierte Scanningtisch unterstützt die Navigation über die Probenoberfläche. Über den XY-Joystick fahren Sie die gewünschten Untersuchungsstellen an; der motorische Z-Trieb ermöglicht die Fokussierung.

Materialaufnahmen digital dokumentieren

Die ZEISS Axiocam 305 color R2 erfasst Farbbilder für die Dokumentation Ihrer Untersuchungen. Mit ZEN core lassen sich Aufnahmen erstellen und bearbeiten.

Zusätzliche quantitative Analysefunktionen, beispielsweise zur Korngrößenbestimmung oder automatisierten Einschlussbewertung, werden bei Bedarf separat auf Ihre Prüfaufgabe abgestimmt.

Typische Einsatzbereiche

• Metallografische Gefügeuntersuchung

• Prüfung präparierter Materialoberflächen

• Industrielle Qualitätssicherung

• Dokumentation von Werkstoffproben

• Werkstoffentwicklung und Schadensuntersuchung

Ausstattung und Lieferumfang

Mikroskopstativ und Beleuchtung

Das Stativ besitzt Aufnahmen für Leuchtfeldblenden-, Aperturblenden-, Polarisator- und Filterschieber sowie eine Schnittstelle für die alternative Leuchte HAL 100.

Objektive und Beobachtung

Zusätzlich enthalten:

• Binokularer Fototubus, links 45°/23, Lichtteilung 50:50

• Zwei fokussierbare Brillenträgerokulare PL 10×/23

• Zwei Augenmuscheln

• Kamera-Adapter 60N-C 2/3″ 0,63×, drehbar ± 2°

Probenpositionierung und Kalibrierzubehör

• Motorisierter Scanningtisch 130 × 85 mm mit CAN-Ansteuerung

• XY-Joystick

• Vertiefter Einlegerahmen K für Auflicht, Durchmesser 72 mm

• Zwei Tischlochblenden mit 10 beziehungsweise 23 mm Öffnung

• Objektmikrometer für Auflicht

Beleuchtungszubehör

• Reflektormodul Hellfeld ACR P&C für Auflicht

• Achromatischer Beleuchtungsadapter A

• Filterschieber A 14 × 40 mm für drei Filter mit 25 mm Durchmesser

• Blendenschieber A 14 × 40 mm mit Aperturblende

• Blendenschieber A 14 × 40 mm mit Apertur- und Leuchtfeldblende

• Konversionsfilter 5700–3200 K, Durchmesser 25 mm

• Graufilter 0,06 und 0,25, jeweils Durchmesser 25 mm

Kamera und Software

• Mikroskopie-Kamera ZEISS Axiocam 305 color R2

• ZEISS ZEN core

Die Softwareversion und der verbindliche Lieferumfang werden im Angebot ausgewiesen. Ein Computer beziehungsweise eine Workstation ist in der hier aufgeführten Ausstattung nicht enthalten.

Beratung zu Ihrer Materialprüfung

Sie möchten wissen, ob Auflicht-Hellfeld für Ihre Proben ausreicht und welche Softwarefunktionen Sie benötigen? Nutzen Sie „Beratung anfordern“, um Ihre Anforderungen abzustimmen und ein individuelles Angebot zu erhalten.

Anwendungsbereiche

Materialografie

Materialwissenschaften