Zeiss Axiovert 5 AL SCB f/HF DF DIC m/EC EPN inkl. Axiocam 305 color
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ZEISS Axiovert 5 AL SCB – inverses Auflichtmikroskop für Hellfeld, Dunkelfeld & DIC mit EC Epiplan-Neofluar Optiken
Das ZEISS Axiovert 5 AL SCB ist ein leistungsstarkes inverses Mikroskop für anspruchsvolle Anwendungen in der Materialanalyse, Oberflächenprüfung, Mikrostrukturanalyse und industriellen Qualitätskontrolle.
Mit seinem robusten Auflicht-Design, der integrierten Smart Control Box (SCB) und den hochwertigen EC Epiplan-Neofluar HD DIC Objektiven liefert es kontrastreiche, reproduzierbare Ergebnisse von 5× bis 50× Vergrößerung.
Das System vereint Auflicht-Hellfeld, Dunkelfeld und Differential Interference Contrast (DIC) in einem kompakten Modul, ideal zur Erkennung feinster Defekte, Topografieunterschiede, Gefügestrukturen und polierter Oberflächen.
Die integrierte Axiocam 305 color (5 MP, Global Shutter) ermöglicht präzise Dokumentation mit optimaler Farbwiedergabe und schneller Livebilddarstellung.
Dank Smart Control Box kann das Mikroskop vollständig stand-alone betrieben werden – inklusive automatischer Erkennung der DIC- & Filterpositionen, Bildoptimierung und direkter HDMI-Ausgabe.
⭐ Hauptmerkmale
– Inverses Auflichtmikroskop mit HF, DF & DIC
– Smart Control Box für autonome Bedienung
– Objektivrevolver & Reflektorrevolver kodiert
– Leistungsstarke EC Epiplan-Neofluar HD DIC Objektive (5×–50×)
– LED-Auflicht 10 W (>60.000 h)
– Hochauflösende Axiocam 305 color (5 MP, Global Shutter)
– Umfangreiche DIC- & Polarisationsmodule inklusive
– Kreuztisch 40×40 mm (Auflicht optimiert)
– Moderne Schnittstellen: HDMI, USB-C/A, Ethernet, Wi-Fi-kompatibel
🎯 Ideal für
– Materialographie & metallische Oberflächen
– Mikrostrukturanalyse / Gefügeprüfung
– Riss- und Kanteninspektion
– Dunkelfeldinspektionen (Partikel, Defekte, Einschlüsse)
– DIC für feinste Topografie & Höhenunterschiede
– Qualitätskontrolle, Industrie & Forschung
– Prüflabore, Entwicklung & technische Diagnostik
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